1. Conception intégrée du microscope métallographique optique et du microscope à force atomique, fonctions puissantes

2. Il possède à la fois des fonctions d'imagerie au microscope optique et au microscope à force atomique, qui peuvent toutes deux fonctionner en même temps sans s'affecter.

3.En même temps, il a les fonctions de mesure bidimensionnelle optique et de mesure tridimensionnelle au microscope à force atomique

4. La tête de détection laser et l'étape de numérisation de l'échantillon sont intégrées, la structure est très stable et l'anti-interférence est forte

5. Dispositif de positionnement de sonde de précision, le réglage de l'alignement du point laser est très facile

6. L'échantillon d'entraînement à axe unique s'approche automatiquement de la sonde verticalement, de sorte que la pointe de l'aiguille est balayée perpendiculairement à l'échantillon

7. La méthode d'alimentation intelligente de l'aiguille de la détection automatique en céramique piézoélectrique sous pression contrôlée par moteur protège la sonde et l'échantillon

8. Système de positionnement optique à très fort grossissement pour obtenir un positionnement précis de la sonde et de la zone de numérisation de l'échantillon

9. Éditeur utilisateur de correction non linéaire de scanner intégré, caractérisation nanométrique et précision de mesure supérieure à 98%

Caractéristiques: