1. conception intégrée du microscope métallographique optique et microscope à force atomique, fonctions puissantes

2.Il a à la fois des fonctions d'imagerie de microscope optique et de microscope à force atomique, qui peuvent tous deux fonctionner en même temps sans s'affronter

3. Au même moment, il a les fonctions de mesure optique bidimensionnelle et de microscope à force atomique

4. La tête de détection laser et l'étape de balayage de l'échantillon sont intégrées, la structure est très stable et l'anti-interférence est forte

5. Dispositif de positionnement de la sonde de précision, Le réglage de l'alignement du point laser est très facile

6. L'échantillon d'entraînement à axe unique s'approche automatiquement de la sonde verticalement, de sorte que la pointe de l'aiguille est scannée perpendiculaire à l'échantillon

7. La méthode d'alimentation intelligente de la détection automatique de céramique piézoélectrique sous pression à moteur

8. Système de positionnement optique ultra-élevé pour obtenir un positionnement précis de la sonde et de la zone de balayage des échantillons

9. Éditeur utilisateur de correction non linéaire intégrée, caractérisation nanométrique et précision de mesure mieux que 98%

Caractéristiques: