Présentation du FCM2000W
Le microscope métallographique de type ordinateur FCM2000W est un microscope métallographique inversé trinoculaire, qui est utilisé pour identifier et analyser la structure combinée de divers métaux et alliages.Il est largement utilisé dans les usines ou les laboratoires pour l'identification de la qualité de la coulée, l'inspection des matières premières ou après le traitement des matériaux.Analyse de la structure métallographique et travaux de recherche sur certains phénomènes de surface tels que la pulvérisation de surface ;analyse métallographique de l'acier, des matériaux métalliques non ferreux, des pièces moulées, des revêtements, analyse pétrographique de la géologie et analyse microscopique des composés, céramiques, etc. dans le domaine industriel des moyens de recherche efficaces.
Mécanisme de mise au point
Le mécanisme de mise au point coaxiale à réglage fin et grossier de la position inférieure de la main est adopté, qui peut être ajusté sur les côtés gauche et droit, la précision de réglage fin est élevée, le réglage manuel est simple et pratique, et l'utilisateur peut facilement obtenir un clair et image confortable.La course de réglage grossier est de 38 mm et la précision de réglage fin est de 0,002.
Plate-forme mobile mécanique
Il adopte une plate-forme à grande échelle de 180 × 155 mm et est placé dans la position de droite, ce qui correspond aux habitudes de fonctionnement des gens ordinaires.Pendant l'opération de l'utilisateur, il est pratique de basculer entre le mécanisme de mise au point et le mouvement de la plate-forme, offrant aux utilisateurs un environnement de travail plus efficace.
Système d'éclairage
Système d'éclairage Kola de type Epi avec diaphragme à ouverture variable et diaphragme à champ central réglable, adopte une tension large adaptative 100V-240V, une luminosité élevée de 5W, un éclairage LED longue durée.
Tableau de configuration du FCM2000W
| Configuration | Modèle | |
| Article | spécification | FCM2000W |
| Système optique | Système optique à aberration finie | · |
| tube d'observation | Inclinaison à 45°, tube d'observation trinoculaire, plage de réglage de la distance interpupillaire : 54-75 mm, rapport de division du faisceau : 80:20 | · |
| oculaire | Oculaire à grand champ et point oculaire élevé PL10X/18mm | · |
| Oculaire grand plan de champ à point oculaire élevé PL10X/18mm, avec micromètre | O | |
| Oculaire grand champ à point oculaire élevé WF15X/13mm, avec micromètre | O | |
| Oculaire grand champ à point oculaire élevé WF20X/10mm, avec micromètre | O | |
| Objectifs (objectifs achromatiques à longue portée)
| LMPL5X /0.125 WD15.5mm | · |
| LMPL10X/0.25 WD8.7mm | · | |
| LMPL20X/0.40 WD8.8mm | · | |
| LMPL50X/0.60 WD5.1mm | · | |
| LMPL100X/0.80 WD2.00mm | O | |
| convertisseur | Convertisseur à quatre trous de positionnement interne | · |
| Convertisseur à cinq trous de positionnement interne | O | |
| Mécanisme de mise au point | Mécanisme de mise au point coaxial pour un réglage grossier et fin en position basse de la main, la course par révolution du mouvement grossier est de 38 mm ;la précision de réglage fin est de 0,02 mm | · |
| Organiser | Plate-forme mobile mécanique à trois couches, zone 180 mm X 155 mm, commande à main basse à droite, course : 75 mm × 40 mm | · |
| table de travail | Plaque de scène en métal (trou central Φ12mm) | · |
| Système d'épi-illumination | Système d'éclairage Kola de type Epi, avec diaphragme à ouverture variable et diaphragme de champ central réglable, large tension adaptative 100V-240V, lumière LED de couleur chaude unique de 5W, intensité lumineuse réglable en continu | · |
| Système d'éclairage Epi-type Kola, avec diaphragme à ouverture variable et diaphragme à champ central réglable, tension large adaptative 100V-240V, lampe halogène 6V30W, intensité lumineuse réglable en continu | O | |
| Accessoires polarisants | Carte polariseur, carte analyseur fixe, carte analyseur rotative à 360° | O |
| filtre de couleur | Filtres jaune, vert, bleu, dépoli | · |
| Système d'analyse métallographique | Logiciel d'analyse métallographique JX2016, appareil photo 3 millions, interface d'objectif adaptateur 0,5X, micromètre | · |
| ordinateur | Jet d'affaires HP | O |
Note："· "standard;"O"facultatif
Logiciel JX2016
Le "système d'exploitation informatique d'analyse d'images métallographiques quantitatives professionnelles" configuré par les processus du système d'analyse d'images métallographiques et la comparaison, la détection, l'évaluation, l'analyse, les statistiques et les rapports graphiques de sortie en temps réel des échantillons de cartes collectés.Le logiciel intègre la technologie d'analyse d'image avancée d'aujourd'hui, qui est la combinaison parfaite du microscope métallographique et de la technologie d'analyse intelligente.DL/DJ/ASTM, etc.).Le système possède toutes les interfaces chinoises, qui sont concises, claires et faciles à utiliser.Après une simple formation ou en vous référant au manuel d'instructions, vous pouvez l'utiliser librement.Et il fournit une méthode rapide pour apprendre le bon sens métallographique et vulgariser les opérations.
Fonctions du logiciel JX2016
Logiciel de retouche d'images : plus de dix fonctions telles que l'acquisition d'images et le stockage d'images ;
Logiciel d'image : plus de dix fonctions telles que l'amélioration de l'image, la superposition d'images, etc. ;
Logiciel de mesure d'image : des dizaines de fonctions de mesure telles que le périmètre, la surface et le contenu en pourcentage ;
Mode de sortie : sortie de table de données, sortie d'histogramme, sortie d'impression d'image.
Progiciels métallographiques dédiés :
Mesure et cotation de la taille des grains (extraction des joints de grains, reconstruction des joints de grains, monophasé, biphasé, mesure de la taille des grains, cotation);
Mesure et cotation des inclusions non métalliques (dont sulfures, oxydes, silicates, etc.) ;
Mesure et évaluation de la teneur en perlite et ferrite ;mesure et évaluation de la nodularité du graphite en fonte ductile ;
Couche de décarburation, mesure de la couche carburée, mesure de l'épaisseur du revêtement de surface ;
Mesure de profondeur de soudure ;
Mesure phase-aire des aciers inoxydables ferritiques et austénitiques ;
Analyse du silicium primaire et du silicium eutectique d'un alliage d'aluminium à haute teneur en silicium ;
Analyse des matériaux en alliage de titane... etc ;
Contient des atlas métallographiques de près de 600 matériaux métalliques couramment utilisés à des fins de comparaison, répondant aux exigences de la plupart des unités d'analyse et d'inspection métallographiques ;
Compte tenu de l'augmentation continue des nouveaux matériaux et des matériaux de qualité importés, les matériaux et les normes d'évaluation qui n'ont pas été saisis dans le logiciel peuvent être personnalisés et saisis.
Version Windows applicable du logiciel JX2016
Win 7 Professionnel, Ultimate Win 10 Professionnel, Ultimate
Étape de fonctionnement du logiciel JX2016
1. Sélection de modules ;2. Sélection des paramètres matériels ;3. Acquisition d'images ;4. Sélection du champ de vision ;5. Niveau d'évaluation ;6. Générer un rapport
Schéma de configuration du FCM2000W
Taille FCM2000W
