Microscope à force atomique à environnement contrôlé


  • Mode de fonctionnement:mode tactile, mode tactile
  • Plage de balayage XY :50*50um, 20*20um facultatif, 100*100um
  • Plage de balayage Z :5um, 2um facultatif, 10um
  • Résolution de numérisation :Horizontale 0,2 nm, verticale 0,05 nm
  • Taille de l'échantillon:Φ≤68mm, H≤20mm
  • spécification

    1. Conception intégrée du microscope métallographique optique et du microscope à force atomique, fonctions puissantes

    2. Il possède à la fois des fonctions d'imagerie au microscope optique et au microscope à force atomique, qui peuvent toutes deux fonctionner en même temps sans s'affecter mutuellement

    3. Peut fonctionner dans un environnement d'air ordinaire, un environnement liquide, un environnement de contrôle de température et un environnement de contrôle de gaz inerte en même temps

    4. La table de numérisation d'échantillons et la tête de détection laser sont conçues dans un type fermé, et un gaz spécial peut être rempli et déchargé à l'intérieur, sans ajouter de couvercle d'étanchéité

    5. La détection laser adopte une conception de chemin optique vertical et peut fonctionner sous liquide avec le support de sonde à double usage gaz-liquide

    6. L'échantillon d'entraînement à axe unique s'approche automatiquement de la sonde verticalement, de sorte que la pointe de l'aiguille est balayée perpendiculairement à l'échantillon

    7. La méthode d'alimentation intelligente de l'aiguille de la détection automatique en céramique piézoélectrique sous pression contrôlée par moteur protège la sonde et l'échantillon

    8. Système de positionnement optique à très fort grossissement pour obtenir un positionnement précis de la sonde et de la zone de numérisation de l'échantillon

    9. Éditeur utilisateur de correction non linéaire de scanner intégré, caractérisation nanométrique et précision de mesure supérieure à 98%

    Caractéristiques:

    Mode de fonctionnement mode tactile, mode tactile
    Mode optionnel Frottement/force latérale, amplitude/phase, force magnétique/électrostatique
    courbe du spectre de force Courbe de force FZ, courbe RMS-Z
    Plage de balayage XY 50*50um, 20*20um facultatif, 100*100um
    Plage de balayage Z 5um, 2um facultatif, 10um
    Résolution de numérisation Horizontale 0,2 nm, verticale 0,05 nm
    Taille de l'échantillon Φ≤68mm, H≤20mm
    Exemple de voyage d'étape 25*25mm
    Oculaire optique 10X
    Objectif optique Objectifs apochromatiques Plan 5X/10X/20X/50X
    Méthode d'éclairage Système d'éclairage LE Kohler
    Mise au point optique Mise au point manuelle approximative
    Caméra Capteur CMOS 5MP
    afficher Écran plat de 10,1 pouces avec fonction de mesure liée au graphique
    Équipement de chauffage Plage de contrôle de la température : température ambiante ~ 250 ℃ (facultatif)
    Plateforme intégrée chaud et froid Plage de contrôle de température : -20℃~220℃ (facultatif)
    Vitesse de numérisation 0.6Hz-30Hz
    Angle de balayage 0-360°
    Environnement d'exploitation Système d'exploitation Windows XP/7/8/10
    Interface de Communication USB2.0/3.0

    微信截图_20220420171438_副本


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