Microscope métallographique à micro-ordinateur 4XC-W


spécification

Présentation du microscope métallographique informatique 4XC-W

Le microscope métallurgique informatique 4XC-W est un microscope métallurgique inversé trinoculaire, équipé d'un excellent objectif achromatique à longue distance focale et d'un oculaire à grand champ de vision.Le produit est de structure compacte, pratique et confortable à utiliser.Il convient à l'observation microscopique de la structure métallographique et de la morphologie de surface, et est un instrument idéal pour la métallologie, la minéralogie et la recherche en ingénierie de précision.

Système d'observation

Tube d'observation articulé : tube d'observation binoculaire, vision unique réglable, inclinaison de 30° du tube de l'objectif, confortable et beau.Tube d'observation trinoculaire, qui peut être connecté à un appareil photo.Oculaire : oculaire à grand champ WF10X, avec une plage de champ de vision de φ18 mm, offrant un espace d'observation large et plat.

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Platine mécanique

L'étage mobile mécanique a une plaque d'étage circulaire rotative intégrée, et la plaque d'étage circulaire est tournée au moment de l'observation de la lumière polarisée pour répondre aux exigences de la microscopie à lumière polarisée.

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Système d'éclairage

En utilisant la méthode d'éclairage Kola, le diaphragme d'ouverture et le diaphragme de champ peuvent être ajustés par des cadrans, et l'ajustement est fluide et confortable.Le polariseur en option peut ajuster l'angle de polarisation de 90° pour observer des images microscopiques sous différents états de polarisation.

4XC-W4

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Modèle

Article

Détails

4XC-W

Système optique

Système optique de correction d'aberration finie

·

tube d'observation

Tube binoculaire articulé, inclinable à 30° ;tube trinoculaire, distance interpupillaire et dioptrie réglables.

·

Oculaire

(grand champ de vision)

WF10X (Φ18mm)

·

WF16X (Φ11mm)

O

WF10X (Φ18mm) Avec règle de division croisée

O

Lentille d'objectif standard(Objectifs achromatiques à longue portée)

PL L 10X/0.25 WD8.90mm

·

PL L 20X/0.40 WD3.75mm

·

PL L 40X/0.65 WD2.69mm

·

SP 100X/0.90 WD0.44mm

·

Lentille d'objectif en option(Objectifs achromatiques à longue portée)

PL L50X/0.70 WD2.02mm

O

PL L 60X/0.75 WD1.34mm

O

PL L 80X/0.80 WD0.96mm

O

PL L 100X/0.85 WD0.4mm

O

convertisseur

Convertisseur à quatre trous de positionnement intérieur de la balle

·

Convertisseur à cinq trous de positionnement intérieur de la balle

O

Mécanisme de mise au point

Réglage de la mise au point coaxiale par mouvement grossier et fin, valeur de réglage fin : 0,002 mm ;course (à partir du foyer de la surface de la scène) : 30 mm.Mouvement grossier et tension réglables, avec dispositif de verrouillage et de fin de course

·

Organiser

Type mobile mécanique à double couche (taille : 180 mm x 150 mm, plage de déplacement : 15 mm x 15 mm)

·

Système d'éclairage

Lampe halogène 6V 20W, luminosité réglable

·

Accessoires polarisants

Groupe analyseur, groupe polariseur

O

Filtre de couleur

Filtre jaune, filtre vert, filtre bleu

·

Système d'analyse métallographique

Logiciel d'analyse métallographique JX2016, appareil photo 3 millions, interface d'objectif adaptateur 0,5X, micromètre

·

PC

Ordinateur professionnel HP

O

Note: "·" est la configuration standard ; "O" est facultatif

Présentation du logiciel d'analyse d'images métallographiques JX2016

Le "système d'exploitation informatique d'analyse d'images métallographiques quantitatives professionnelles" configuré par les processus du système d'analyse d'images métallographiques et la comparaison, la détection, l'évaluation, l'analyse, les statistiques et les rapports graphiques de sortie en temps réel des échantillons de cartes collectés.Le logiciel intègre la technologie d'analyse d'image avancée d'aujourd'hui, qui est la combinaison parfaite du microscope métallographique et de la technologie d'analyse intelligente.DL/DJ/ASTM, etc.).Le système possède toutes les interfaces chinoises, qui sont concises, claires et faciles à utiliser.Après une simple formation ou en vous référant au manuel d'instructions, vous pouvez l'utiliser librement.Et il fournit une méthode rapide pour apprendre le bon sens métallographique et vulgariser les opérations.

Fonctions du logiciel d'analyse d'images métallographiques JX2016

Logiciel de retouche d'images: plus de dix fonctions telles que l'acquisition d'images et le stockage d'images ;

Logiciel d'imagerie: plus de dix fonctions telles que l'amélioration de l'image, la superposition d'images, etc. ;

Logiciel de mesure d'images: des dizaines de fonctions de mesure telles que le périmètre, la surface et le contenu en pourcentage ;

Mode de sortie: sortie table de données, sortie histogramme, sortie impression image.

Logiciel métallographique dédié

Mesure et cotation de la taille des grains (extraction des joints de grains, reconstruction des joints de grains, monophasé, biphasé, mesure de la taille des grains, cotation);

Mesure et cotation des inclusions non métalliques (dont sulfures, oxydes, silicates, etc.) ;

Mesure et évaluation de la teneur en perlite et ferrite ;mesure et évaluation de la nodularité du graphite en fonte ductile ;

Couche de décarburation, mesure de la couche carburée, mesure de l'épaisseur du revêtement de surface ;

Mesure de profondeur de soudure ;

Mesure phase-aire des aciers inoxydables ferritiques et austénitiques ;

Analyse du silicium primaire et du silicium eutectique d'un alliage d'aluminium à haute teneur en silicium ;

Analyse des matériaux en alliage de titane... etc ;

Contient des atlas métallographiques de près de 600 matériaux métalliques couramment utilisés à des fins de comparaison, répondant aux exigences de l'analyse métallographique et de l'inspection de la plupart des unités ;

Compte tenu de l'augmentation continue des nouveaux matériaux et des matériaux de qualité importés, les matériaux et les normes d'évaluation qui n'ont pas été saisis dans le logiciel peuvent être personnalisés et saisis.

Étapes de fonctionnement du logiciel d'analyse d'images métallographiques JX2016

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1. Sélection des modules

2. Sélection des paramètres matériels

3. Acquisition d'images

4. Sélection du champ de vision

5. Niveau de classement

6. Générez des rapports

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